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德國Accurion 布魯斯特角顯微鏡是專為空氣/液體界面設計的布魯斯特角顯微鏡。它可以直接觀察朗繆爾單分子層或吸附薄膜。它同樣適用于玻璃、石英或類似材料等電介質基底。Accurion UltraBAM 結合了高分辨率和整體聚焦的實時成像。*的成像光學系統能夠以每秒 20-35 幀的速度提供全聚焦圖像。高性能相機和特定的校準算法實現了反射率的定量測量，從而可以監測吸附動力學或厚度變化。

Accurion EP4 橢偏顯微鏡 用途：多層薄膜的厚度和光學常數（n、k值）測量

準確成像, 無交叉耦合現象 業界*的XYZ軸線性度，樣品和探針分別由獨立的柔性制導掃描器控制移動 Z低的平面偏移度，全程水平掃描時平面偏移量不超過1納米 垂直掃描器全程伸縮時，線性度優于0.015% 優化的水平掃描器ringing現象, 科學的正向sine-scan算法 原子力顯微鏡

- 原子力顯微鏡（AFM）有納米級分辨率成像以及電，磁，熱和機器性能測量的能力。 - 納米管掃描系統可用于高分辨率掃描離子電導顯微鏡（SICM）。 - 倒置光學顯微鏡（IOM）便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。

在同級產品中，Park XE7能夠帶來Z高納米級分辨率的測量效果。得益于*的原子力顯微鏡架構，即獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠實現平滑、正交且線性的掃描測量，從而精確成像和測量樣品的特征。此外，Park所*的True Non-Contact™模式還能為您帶來*的圖像效果，探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。